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FCom晶振是否經過老化測試？具體流程有哪些保障？

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深圳市匯浩電子科技發展有限公司2025-06-10

FCom晶振出廠前執行85~125°C高溫老化測試超168小時，監控頻差、功耗與功能保持，確保進入系統后3~10年穩定運行，適用于工業與車規系統。

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簡介：富士晶振專注高精度工業/車規級晶振，低功耗、高可靠，適配電信/汽車/消費電子推進小型精密化與高性價比
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企業信息

深圳市匯浩電子科技發展有限公司

聯系人： 陳奕坤

手   機： 13760306178

網   址： https://www.fcomcrystal.com/

地   址：
廣東省深圳市福田區振華路163號飛亞達大廈西座8樓823
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