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上海質(zhì)量探針維修價(jià)格

來源: 發(fā)布時間:2025-05-04

電子探針可以對試樣中微小區(qū)域(微米級)的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析。可以進(jìn)行點(diǎn)、線掃描(得到層成分分布信息)、面掃描分析(得到成分面分布圖像)。還能全自動進(jìn)行批量(預(yù)置9999測試點(diǎn))定量分析。由于電子探針技術(shù)具有操作迅速簡便(相對復(fù)雜的化學(xué)分析方法而言)、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的解釋直截了當(dāng)、分析過程不損壞樣品、測量準(zhǔn)確度較高等優(yōu)點(diǎn),故在冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫(yī)學(xué)、考古以及其它領(lǐng)域中得到日益***地應(yīng)用,是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工具。電子探針是法國制成的,是在1949年用電子顯微鏡和X射線光譜儀組合而成。上海質(zhì)量探針維修價(jià)格

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3 面分析用于測定某種元素的面分布情況。方法是將X射線譜儀固定在所要測量的某元素特征X射線信號的位置上,電子束在樣品表面做光柵掃描,此時在熒光屏上便可看到該元素的面分布圖像。顯像管的亮度由試樣給出的X射線強(qiáng)度調(diào)制。圖像中的亮區(qū)表示這種元素的含量較高。定量分析定量分析時,先測得試樣中Y元素的特征X射線強(qiáng)度IY,再在同一條件下測出已知純元素Y的標(biāo)準(zhǔn)試樣特征X射線強(qiáng)度IO。然后兩者分別扣除背底和計(jì)數(shù)器死時間對所測值的影響,得到相應(yīng)的強(qiáng)度值IY和IO,兩者相除得到X射線強(qiáng)度之比KY= IY / IO。 直接將測得的強(qiáng)度比KY當(dāng)作試樣中元素Y的重量濃度,其結(jié)果還有很大誤差,通常還需進(jìn)行三種效應(yīng)的修正。即原子序數(shù)效應(yīng)的修正,吸收效應(yīng)修正,熒光效應(yīng)修正。經(jīng)過修正,誤差可控制在±2%以內(nèi)。嘉定區(qū)品牌探針按需定制(1)電子光學(xué)系統(tǒng)。電子束直徑0.1~1μm,電子束穿透深度1~3μm。

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該系統(tǒng)為電子探針分析提供具有足夠高的入射能量,足夠大的束流和在樣品表面轟擊殿處束斑直徑近可能小的電子束,作為X射線的激發(fā)源。為此,一般也采用鎢絲熱發(fā)射電子槍和2-3個聚光鏡的結(jié)構(gòu)。 為了提高X射線的信號強(qiáng)度,電子探針必須采用較掃描電鏡更高的入射電子束流(在10-9-10-7A范圍),常用的加速電壓為10-30 KV,束斑直徑約為0.5μm。電子探針在鏡筒部分與掃描電鏡明顯不同之處是由光學(xué)顯微鏡。它的作用是選擇和確定分析點(diǎn)。其方法是,先利用能發(fā)出熒光的材料(如ZrO2)置于電子束轟擊下,這是就能觀察到電子束轟擊點(diǎn)的位置,通過樣品移動裝置把它調(diào)到光學(xué)顯微鏡目鏡十字線交叉點(diǎn)上,這樣就能保證電子束正好轟擊在分析點(diǎn)上,同時也保證了分析點(diǎn)處于X射線分光譜儀的正確位置上。在電子探針上大多使用的光學(xué)顯微鏡是同軸反射式物鏡,其優(yōu)點(diǎn)是光學(xué)觀察和X射線分析可同時進(jìn)行。放大倍數(shù)為100-500倍。

特異性探針有三種形式——cDNA、RNA、寡核苷酸。cDNA和寡核苷酸是**常采用的探針。RNA探針用途很廣,也容易獲得,但其不穩(wěn)定性限制了其商業(yè)用途。cDNA探針的獲得是,將特定的基因片段裝載到質(zhì)粒或噬菌體中,經(jīng)過擴(kuò)增、酶切、純化等復(fù)雜的步驟,才能得到一定長度的cDNA探針。這一過程比較復(fù)雜,有相應(yīng)條件的實(shí)驗(yàn)室才能做到。寡核苷酸探針是在已知基因序列的情況下,由核酸合成儀來完成,可廉價(jià)獲得大量的此類探針。質(zhì)量也相對來說更為穩(wěn)定。由于cDNA探針長度通常為數(shù)百至數(shù)千個堿基,所以有良好的信號放大作用,但其滲透性比較差。寡核苷酸探針一般為十?dāng)?shù)個至數(shù)十個堿基,滲透性強(qiáng),但信號放大作用則較差,合成的多相寡核苷酸探針,敏感性可以達(dá)到cDNA探針?biāo)健?yīng)用于地質(zhì)、冶金材料、水泥熟料研究等部門。

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電子探針又稱微區(qū)X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面,使被轟擊的元素激發(fā)出特征X射線,按其波長及強(qiáng)度對固體表面微區(qū)進(jìn)行定性及定量化學(xué)分析。主要用來分析固體物質(zhì)表面的細(xì)小顆粒或微小區(qū)域,**小范圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數(shù)3(鋰)至92(鈾)。***感量可達(dá)10-14至10-15g。近年形成了掃描電鏡-顯微分析儀的聯(lián)合裝置,可在觀察微區(qū)形貌的同時逐點(diǎn)分析試樣的化學(xué)成分及結(jié)構(gòu)。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金材料、水泥熟料研究等部門。如圖《電子探針示意圖》所示。可以進(jìn)行點(diǎn)、線掃描(得到層成分分布信息)、面掃描分析(得到成分面分布圖像)。上海質(zhì)量探針維修價(jià)格

后期生產(chǎn)的儀器,可作X射線背散射照相、照相。上海質(zhì)量探針維修價(jià)格

2.界面探針(Interface Probes)非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測試機(jī)臺的客戶定做的,例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測試機(jī)臺與測試夾具的接觸點(diǎn)和面.3.微型探針(MicroSeries Probes)兩個測試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.4.開關(guān)探針(Switch Probes)開關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流.5.高頻探針(Coaxial Probes)用于測試高頻信號,有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)彈力一般不高,因?yàn)槠浯┩感员緛砭秃軓?qiáng),一般用于OSP處理過的PCBA測試.上海質(zhì)量探針維修價(jià)格

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