光學線掃描儀，作為一種基于光學原理的設備，在多個領域中發揮著重要作用。以下是對光學線掃描儀的詳細介紹：一、定義與工作原理定義：光學線掃描儀是一種利用光學技術將物體表面的線性特征（如線條、邊緣等）轉換為數字信息的設備。它通過光源照射目標物體，利用光學傳感器捕捉反射光線，將光信號轉換為電信號，再經過模數轉換器轉換為數字信號，通過計算機軟件處理形成圖像或數據。工作原理：光源發出強光照射在目標物體上。物體表面的線性特征反射光線至光學感應器。光學感應器接收信號并將其傳送到模數轉換器。模數轉換器將模擬信號轉換為數字信號。計算機軟件處理數字信號，形成圖像或數據。二、功能與特點高精度：光學線掃描儀能夠捕捉物體表面的微小細節，提供高精度的測量數據。非接觸式測量：避免了傳統接觸式測量可能造成的磨損和誤差。自動化程度高：能夠自動完成掃描過程，提高工作效率。數據處理能力強：配合計算機軟件，可對掃描數據進行準確的處理和分析。 光學應變測量有助于深入了解材料的力學性質和變形行為，為材料設計提供有力支持。上海光學數字圖像相關技術總代理

光學非接觸應變測量是一種通過光學測量技術實現的應變測量方法，光學非接觸應變測量利用光與物質相互作用時產生的光學現象（如光的反射、折射、干涉、衍射等）來間接地測量物體的變形。通過分析物體變形前后光學信號的變化，可以推導出物體的應變狀態。利用全息原理記錄物體的三維信息，通過比較變形前后的全息圖，可以計算出物體的應變場。通過激光照射物體表面并測量反射光的振動情況，可以計算出物體的微小變形和應變。基于圖像處理技術，通過比較物體變形前后兩幅或多幅數字圖像中特征點的位移變化，來計算物體的應變場。DIC具有全場測量、精度高、易于實現等優點。上海掃描電鏡數字圖像相關技術測量裝置非接觸測量避免物體損傷，激光相干性確保高精度和高靈敏度。

    在應變測量時，根據所使用的應變片的數量和測量目的，可以使用各種連接方法。在四分之一橋方法中，較多使用3線式連接來消除溫度變化對導線電阻的影響。但是，導線電阻相關的靈敏系數修正以及連接部分的接觸電阻變化等會產生測量誤差。因此，開發出了的獨特的1計4線應變測量法，省去了根據導線電阻校正靈敏系數的需要，消除了由接觸電阻引起的測量誤差。在溫度恒定的條件，即使被測構件未承受應力，應變計的指示應變也會隨著時間的增加而逐漸變化，即零點漂移（零漂）。

    對于復合材料的拉伸試驗，可以使用試樣一側的單應變測量來測量軸向應變。然而，通過在試樣的相對兩側進行測量并計算它們的平均值，可以得到更一致和準確的結果。使用平均應變測量對于壓縮測試至關重要，因為兩次測量之間的差異用于檢查試樣是否過度彎曲。通常在拉伸和壓縮測試中確定泊松比需要額外測量橫向應變。剪切試驗時需要確定剪切應變，剪切應變可以通過測量軸向和橫向應變來計算。在V型缺口剪切試驗中，應變分布不均勻且集中在試樣的缺口之間，為了更加準確測量這些局部應變需要使用應變儀。 光學應變測量技術全場測量，提供全部準確應變數據。

    應變測量有多種方法，比較常見的是使用應變計。應變計的電阻與設備的應變存在比例關系；比較常用的應變計是粘貼式金屬應變計。金屬應變計是由細金屬絲，或者更為常見的是由按柵格排列的金屬箔組成的。格網狀可以對并行方向中應變的金屬絲/金屬箔量進行比較大化。格網能與一個被稱作基底的薄背板相連，基底直接連接至測試樣本。因此，測試樣本所受的應變直接傳輸到應變計，引起電阻的線性變化。應變計的基礎參數是其對應變的靈敏度，在數量上表示為應變計因子(GF)。GF是電阻變化與長度變化或應變的比值。 光學非接觸應變測量技術對于遠程監測橋梁、高樓等結構的應變情況尤為重要。上海光學數字圖像相關技術總代理

光學應變測量是非接觸性的，避免了接觸式測量可能引起的誤差。上海光學數字圖像相關技術總代理

    建筑變形測量的基準點應設置在變形影響植圍以外且位置穩定易于長期保存的地方，宜避開高壓線。基準點應埋設標石或標志，且應在埋設達到穩定后方可開始進行變形測量。穩定期應根據觀測要求與地質條件確定，不宜少于7d。基準點應每期檢測、定期復測，并應符合下列規定：基準點復測周期應視其所在位置的穩定情況確定，在建筑施工過程中宜1-2月復測1次，施工結束后宜每季度或每半年復測1次。當某期檢測發現基準點有可能變動時，應立即進行復測。 上海光學數字圖像相關技術總代理