單晶射線衍射儀是一種用于化學領域的分析儀器, 額定功率:50kv 40mA。CCD探測器:62mm 4K CCD芯片,Mo 光源增益>170電子/X光子; X-射線發生器:功率3kW,Mo靶陶瓷X射線光管; 三軸(ω,2θ,φ)測角儀:φ360o旋轉≤0.02o步長,角度重現性±0.0001o; Kryo-Flex低溫系統。 該儀器主要用于單晶樣品晶胞參數,單晶結構測定 ,包括孿晶的有機、無機化合物分子的準確三維立體結構,并通過先進的結構解析軟件給出包括鍵長、鍵角、構型、構象乃至成鍵電子密度等分子參數及分子在晶格中的排列狀況。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。臺州衍射儀供應商
衍射儀是為材料研究和工業產品分析設計的,是常規分析與特殊目的測量相結合的完善產品。 硬件系統和軟件系統的有效結合,滿足不同應用領域學者、科研者的需要 高精度的衍射角度測量系統,獲取更準確的測量結果 高穩定性的X射線發生器控制系統,得到更穩定的重復測量精度 各種功能附件滿足不同測試目的需要 程序化操作、一體化結構設計,操作簡便、儀器外型更美觀 X射線衍射儀是揭示材料晶體結構和化學信息的一種通用性測試儀器: 未知樣品中一種和多種物相鑒定 混合樣品中已知相定量分析 晶體結構解析(Rietveld結構分析) 非常規條件下晶體結構變化(高溫、低溫條件下) 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度 微區樣品的分析 金屬材料織構、應力分析。浙江奧林巴斯XRD報價多少錢使用粉末多晶衍射儀測量單晶體樣品時得到的X射線衍射譜。
X射線衍射相分析(phase analysis of xray diffraction)利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質,都有其特定的晶體結構,包括點陣類型、晶面間距等參數,用具有足夠能量的x射線照射試樣,試樣中的物質受激發,會產生二次熒光X射線(標識X射線),晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置(峰位)可以進行化合物的定性分析,測定譜線的積分強度(峰強度)可以進行定量分析,而測定譜線強度隨角度的變化關系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。
“x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器".由于物質要形成比較大的單晶顆粒很困難。所以目前x射線粉末衍射技術是主流的x射線衍射分析技術。單晶衍射可以分析出物質分子內部的原子的空間結構。粉末衍射也可以分析出空間結構。但是大分子(比如蛋白質等)等復雜的很難分析。 x射線粉末衍射可以 1,判斷物質是否為晶體。 2,判斷是何種晶體物質。 3,判斷物質的晶型。 4,計算物質結構的應力。 5,定量計算混合物質的比例。 6,計算物質晶體結構數據。 7,和其他專業相結合會有更普遍的用途。一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產生散射波,這些波互相干涉。
x射線衍射在金屬學中的應用 x射線衍射現象發現后,很快被用于研究金屬和合金的晶體結構,出現了許多具有重大意義的結果。如()(1922年)證明α、β和δ鐵都是立方結構,β-fe并不是一種新相;而鐵中的α─→γ轉變實質上是由體心立方晶體轉變為面心立方晶體,從而終否定了β-fe硬化理論。隨后,在用x射線測定眾多金屬和合金的晶體結構的同時,在相圖測定以及在固態相變和范性形變研究等領域中均取得了豐碩的成果。XRD的基本原理:X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射,主要有連續X射線和特征X射線兩種。衍射儀的X射線源焦點與計數管窗口分別位于測角儀圓周上,樣品位于測角儀圓的正中心。浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀代理
X射線衍射儀是對流體、粉末及塊狀晶體等物質的重要無損分析工具。臺州衍射儀供應商
制作粉末衍射儀試片的技巧: 粉末衍射儀要求樣品試片具有一個十分平整的平面,而且對平面中的晶粒的取向常常要求是完全無序的,不存在擇優取向(在粘土分析中有時又要求制作定向的試片)。 制作合乎要求的衍射儀試片常用的方法。通常很細的樣品粉末(手摸無顆粒感),如無明顯的各相異性且在空氣中又穩定,則可以用“壓片法”來制作試片。先把衍射儀所附的制樣框用膠紙固定在平滑的玻璃片上(如鏡面玻璃,顯微鏡載玻片等),然后把樣品粉末盡可能均勻地灑入(好是用細篩子—360 目篩入)制樣框的窗口中,再用小抹刀的刀口輕輕剁緊,使粉末在窗孔內攤勻堆好,然后用小抹刀把粉末輕輕壓緊,后用保險刀片(或載玻片的斷口)把多余凸出的粉末削去,然后,小心地把制樣框從玻璃平面上拿起,便能得到一個很平的樣品粉末的平面。此法所需樣品粉末量較多,約需0.4cm3。臺州衍射儀供應商
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