在集成電路制造這一高精密的領域中，芯片生產線上的光刻工序堪稱關鍵的環節，其對溫濕度的要求近乎達到苛刻的程度。即便是極其微小的 1℃溫度波動，都可能引發嚴重后果。光刻機內部的光學鏡片會因熱脹冷縮，致使光路發生細微偏移。這看似毫厘之差，卻足以讓光刻圖案精度嚴重受損，使得芯片上的電路布線出現偏差，甚至短路等問題，進而大幅拉低芯片的良品率。而在濕度方面，一旦濕度突破 50% 的警戒線，光刻膠便極易受潮，其感光度發生改變，導致曝光效果大打折扣，無疑同樣對芯片質量產生不可忽視的負面影響。涉及超高精度的測量環境要求，如±0.01-0.1℃ , 甚至更高波動要求，則需要搭建精密環控系統。光學投影儀環境波動度

電子萬能試驗機，作為材料力學性能測試設備，在金屬材料研發、塑料制品質量檢測等眾多領域廣泛應用。它能夠開展材料拉伸、壓縮、彎曲等力學性能測試，為產品質量把控與材料特性研究提供關鍵數據支撐。然而，環境溫濕度的波動對其影響極大。溫度波動時，試驗機力傳感器的精度首先受到沖擊，測量的力值出現偏差，同時還會改變材料自身的力學性能，例如金屬在高溫下屈服強度降低，導致測試結果無法真實反映材料特性。濕度波動時，試驗機的夾具、傳動部件極易生銹腐蝕，致使對試樣的夾持穩定性大打折扣，加載均勻性也難以保證，進一步降低測試精度。電子顯微鏡環境調節高精密恒溫恒濕潔凈環境的長期穩定運行離不開具有高精度傳感器的恒溫恒濕設備。

電子顯微鏡用于觀察微觀世界，其內部的電子束對環境要求極高。環境中的塵埃顆粒可能吸附在電子束路徑上的部件表面，影響成像質量。精密環控柜的超高水準潔凈度控制，將空氣中塵埃過濾干凈，為電子顯微鏡提供超潔凈空間。同時，其具備的抗微震功能，能有效隔絕外界震動干擾，確保電子顯微鏡穩定成像，讓科研人員清晰觀察微觀結構。對于光學顯微鏡，溫度和濕度變化會影響鏡片的光學性能。濕度不穩定可能導致鏡片表面產生水汽凝結，降低光線透過率。精密環控柜通過溫濕度控制，為光學顯微鏡提供穩定環境，保證其光學性能穩定，成像清晰。

光刻設備對溫濕度的要求也極高，光源發出的光線需經過一系列復雜的光學系統聚焦到硅片表面特定區域，以實現對光刻膠的曝光，將設計好的電路圖案印制上去。當環境溫度出現極其微小的波動，哪怕只是零點幾攝氏度的變化，光刻機內部的精密光學元件就會因熱脹冷縮特性而產生細微的尺寸改變。這些光學元件包括鏡片、反射鏡等，它們的微小位移或形狀變化，會使得光路發生偏差。原本校準、聚焦于硅片特定坐標的光線，就可能因為光路的改變而偏離預定的曝光位置，出現曝光位置的漂移。系統詳細記錄運行信息，無論是日常運行還是突發故障，查詢檢索都能準確定位所需。

在計量校準實驗室中，高精度的電子天平用于精確稱量微小質量差異，對環境溫濕度要求極高。若溫度突然升高 2℃，天平內部的金屬部件受熱膨脹，傳感器的靈敏度隨之改變，原本能測量到微克級別的質量變化，此時卻出現讀數偏差，導致測量結果失準。濕度方面，當濕度上升至 70% 以上，空氣中的水汽容易吸附在天平的稱量盤及內部精密機械結構上，增加了額外的重量，使得測量數據偏大，無法反映被測量物體的真實質量，進而影響科研實驗數據的可靠性以及工業生產中原材料配比度。精密環控柜為我司自主研發的精密環境控制產品。光學投影儀環境潔凈棚

關于防微振，除了控制風速降低振動外，在地面增加隔振基礎，可有效降低外部微振動的傳遞。光學投影儀環境波動度

激光干涉儀用于測量微小位移，精度可達納米級別。溫度波動哪怕只有 1℃，由于儀器主體與測量目標所處環境溫度不一致，二者熱脹冷縮程度不同，會造成測量基線的微妙變化，導致測量位移結果出現偏差，在高精度機械加工零件的尺寸檢測中，這種偏差可能使零件被誤判為不合格品，增加生產成本。高濕度環境下，水汽會干擾激光的傳播路徑，使激光發生散射，降低干涉條紋的對比度，影響測量人員對條紋移動的精確判斷，進而無法準確獲取位移數據，給精密制造、航空航天等領域的科研與生產帶來極大困擾。光學投影儀環境波動度