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隨著電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的要求越來(lái)越高，而電子產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)則成為了保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段。本文將介紹電子產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)的分類和特點(diǎn)，以及在實(shí)際應(yīng)用中的一些問題和解決方法。 一、電子產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)分類 1功能測(cè)試：功能測(cè)試是指對(duì)電子產(chǎn)品的各...

DDR4 眼圖測(cè)試1-1 對(duì)于 DDR 源同步操作，必然要求DQS 選通信號(hào)與 DQ 數(shù)據(jù)信號(hào)有一定建立時(shí)間 tDS 和保持時(shí)間 tDH 要求，否則會(huì)導(dǎo)致接收鎖存信號(hào)錯(cuò)誤，DDR4 信號(hào)速率達(dá)到了3.2GT/s，單一比特位寬為 312.5ps，時(shí)序裕...

新的眼圖生成方法解決了觸發(fā)抖動(dòng)問題，處理UI多，因此速度也快。2.1.2.1.數(shù)據(jù)邊沿的提取數(shù)據(jù)邊沿的提取獲取捕獲數(shù)據(jù)的最大值為Max，最小值為Min，設(shè)置Threshold=0.5*(Max+Min)，當(dāng)采樣點(diǎn)電壓值穿過Threshold時(shí)，記錄下時(shí)間為...

（2）波形需要以時(shí)鐘為基準(zhǔn)進(jìn)行疊加：眼圖是對(duì)多個(gè)波形或比特的疊加，但這個(gè)疊加不是任意的，通常要以時(shí)鐘為基準(zhǔn)。對(duì)于很多并行總線來(lái)說(shuō)，由于大部分都有專門的時(shí)鐘傳輸通道，所以通常會(huì)以時(shí)鐘通道為觸發(fā)，對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)的波形進(jìn)行疊加形成眼圖，一般的示波器都具備這個(gè)功能。而對(duì)于...

3. 電氣測(cè)試：電氣測(cè)試用于測(cè)量電路板上各個(gè)部分的電氣參數(shù)，如電壓、電流、功率等，檢查電路板各部分的電性能是否達(dá)標(biāo)。電氣測(cè)試需使用電源、萬(wàn)用表、示波器等儀器. 4.信號(hào)測(cè)試：信號(hào)測(cè)試是用于保證特定信號(hào)在電路板上的傳輸能力，包括控制信號(hào)、時(shí)鐘信號(hào)、數(shù)據(jù)...

3.測(cè)試設(shè)備配置 測(cè)試設(shè)備的配置是電路板測(cè)試流程中的關(guān)鍵步驟之一。根據(jù)測(cè)試方案和測(cè)試指標(biāo)的要求，選擇合適的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試工具，進(jìn)行配置和調(diào)試。測(cè)試設(shè)備的選擇要考慮多個(gè)因素，如適用范圍、測(cè)試精度、測(cè)試成本、自動(dòng)化程度等。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備具有高精度、快速高效...

除了測(cè)試技術(shù)之外，高速電路測(cè)試還需要遵守相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。這些標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范包括國(guó)際、國(guó)家和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，例如IEC、IEEE、中國(guó)電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)協(xié)會(huì)發(fā)布的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。此外，未來(lái)高速電路測(cè)試的發(fā)展趨勢(shì)將更加精細(xì)和復(fù)雜，人工智能和自動(dòng)化技術(shù)將得到廣泛應(yīng)用，數(shù)據(jù)分析...

信號(hào)完整性是指保證信號(hào)在傳輸路徑中受到少的干擾和失真以及在接收端能夠正確解碼。在高速數(shù)字系統(tǒng)中，信號(hào)完整性是保證系統(tǒng)性能和可靠性的關(guān)鍵因素。本文將介紹信號(hào)完整性的基礎(chǔ)知識(shí)。 1. 信號(hào)完整性相關(guān)參數(shù)： -上升時(shí)間：信號(hào)從低電平變?yōu)楦唠娖剿璧臅r(shí)...

信號(hào)完整性問題及解決方法 信號(hào)完整性問題的產(chǎn)生原因，影響信號(hào)完整性的各種因素，以及各因素之間的互相作用，辨識(shí)潛在風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)。信號(hào)完整性設(shè)計(jì)中5類典型問題的處理方法辨析。初步認(rèn)識(shí)系統(tǒng)化設(shè)計(jì)方法。對(duì)信號(hào)完整性問題形成宏觀上的認(rèn)識(shí)。 什么是信號(hào)完整性？ ...

電路板測(cè)試設(shè)備是對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試、分析和驗(yàn)證的基礎(chǔ)工具。在選擇電路板測(cè)試設(shè)備時(shí)，需要考慮多個(gè)因素，包括以下幾個(gè)方面： 1.測(cè)試類型和目標(biāo) 選擇電路板測(cè)試設(shè)備之前，需要明確測(cè)試目標(biāo)和測(cè)試類型。不同類型的電路板需要不同的測(cè)試設(shè)備。如果是進(jìn)行功能測(cè)試...

3.頻率 頻率是測(cè)試交流電設(shè)備的關(guān)鍵參數(shù)之一。在測(cè)試上，頻率用來(lái)測(cè)試設(shè)備的輸入和輸出頻率，以確保其與特定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范相符合。在測(cè)試過程中，頻率也被用來(lái)測(cè)試輸入電源的頻率，以確保其符合規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，同時(shí)也可以確定輸出信號(hào)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。 4...

電路板測(cè)試技術(shù)及其應(yīng)用隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，電路板在電子產(chǎn)品中的作用越來(lái)越大。它是各種電子設(shè)備中的重點(diǎn)部件，支撐著整個(gè)電子設(shè)備的正常運(yùn)行。然而，在制造電路板過程中，易受環(huán)境影響、操作不當(dāng)以及其他因素的影響，難免會(huì)導(dǎo)致一些質(zhì)量問題的出現(xiàn)。因此，在電路板制造...

8.功率測(cè)量方法 在測(cè)量功率時(shí)，需要使用功率測(cè)量?jī)x器。測(cè)試時(shí)需要注意選用合適的儀器，以及正確設(shè)置儀器的測(cè)量范圍和采樣時(shí)間等參數(shù)。 9.功率因數(shù)測(cè)量方法 在測(cè)量功率因數(shù)時(shí)，可以使用功率因數(shù)計(jì)等儀器。測(cè)試時(shí)需要注意選擇合適的測(cè)量方法和儀器，以...

電性能測(cè)試是指對(duì)電器設(shè)備的電學(xué)性能進(jìn)行測(cè)試，以驗(yàn)證其符合規(guī)定的技術(shù)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)要求。 重要的電性能測(cè)試項(xiàng)目通常包括以下幾個(gè)方面： 1.電壓和電流測(cè)試：包括額定電壓測(cè)試、短時(shí)耐受電壓試驗(yàn)、高壓試驗(yàn)等； 2.絕緣測(cè)試：包括直流電阻測(cè)試、介質(zhì)損耗...

在實(shí)際應(yīng)用中，可以采用某個(gè)頻率以下的所有諧波分量，這樣可以近似地表示為原始時(shí)域波形，這個(gè)頻率以上的諧波分量可以忽略不計(jì)，信號(hào)的這個(gè)頻率稱為信號(hào)的帶寬。信號(hào)帶寬對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)λ稱為帶寬波長(zhǎng)。在工程實(shí)踐中，數(shù)字時(shí)鐘信號(hào)具有以下特征： ●時(shí)鐘信號(hào)是由一組諧波分...

電氣完整性大致可以分為以下幾個(gè)類別： 1.傳輸線完整性。傳輸線完整性是指在傳輸線上保持信號(hào)傳輸?shù)姆€(wěn)定性和一致性。主要包括信號(hào)反射、信號(hào)失真、串?dāng)_和噪聲等。 2.時(shí)序完整性。時(shí)序完整性是指在系統(tǒng)中保持時(shí)鐘信號(hào)傳輸?shù)臅r(shí)序一致性。主要包括時(shí)鐘抖動(dòng)、時(shí)...

電氣設(shè)備在使用前需要經(jīng)過嚴(yán)格的電氣性能測(cè)試，主要原因包括以下幾個(gè)方面： 1.確保設(shè)備安全運(yùn)行：電氣性能測(cè)試可以檢驗(yàn)電氣設(shè)備各種參數(shù)是否符合國(guó)家、行業(yè)或企業(yè)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)與要求，保證其在使用過程中的安全性，如電氣設(shè)備能否正常工作，電壓電流等參數(shù)是否正常，在...

高速電路測(cè)試用于驗(yàn)證電路設(shè)計(jì)的性能、可靠性和一致性。以下列舉了一些高速電路測(cè)試用來(lái)做什么測(cè)試的：1.信號(hào)干擾和噪聲測(cè)試：高速電路測(cè)試可以檢測(cè)電路中的信號(hào)干擾和噪聲，包括電磁干擾和開關(guān)噪聲。 2.時(shí)鐘和節(jié)拍測(cè)試：測(cè)試高速電路內(nèi)部時(shí)鐘的穩(wěn)定性、時(shí)間偏差，...

3.時(shí)鐘和節(jié)拍測(cè)試技術(shù)時(shí)鐘和節(jié)拍測(cè)試技術(shù)是一種用于測(cè)量時(shí)鐘信號(hào)的頻率、幅度和時(shí)延等特性的方法。該技術(shù)使用高速數(shù)字示波器和計(jì)數(shù)器等儀器來(lái)實(shí)時(shí)捕獲時(shí)鐘信號(hào)，并分析信號(hào)的頻率、幅度和相位特性，以檢測(cè)時(shí)鐘抖動(dòng)和偏移等問題。 4.頻率響應(yīng)技術(shù)頻率響應(yīng)技術(shù)通常用...

1.電氣完整性測(cè)試的背景和目的：介紹電氣完整性測(cè)試、其重要性和背景以及與其他測(cè)試方法的區(qū)別。 2.電氣完整性測(cè)試的實(shí)施方法:講解電氣完整性測(cè)試的實(shí)施方法、使用測(cè)試工具和測(cè)試技術(shù)進(jìn)行信號(hào)傳輸和接收特性分析的實(shí)驗(yàn)和項(xiàng)目實(shí)踐。 3.電氣完整性測(cè)試的分...

信號(hào)完整性測(cè)試方法： -時(shí)域測(cè)試：觀察信號(hào)在時(shí)間軸上的波形，分析信號(hào)的上升時(shí)間、下降時(shí)間、瞬態(tài)響應(yīng)等參數(shù)，評(píng)估信號(hào)是否存在失真。 -頻域測(cè)試：通過對(duì)信號(hào)進(jìn)行傅里葉變換，將信號(hào)從時(shí)域轉(zhuǎn)換到頻域，分析信號(hào)的功率譜密度、帶寬等參數(shù)，評(píng)估信號(hào)在傳輸路徑...

3.正常操作測(cè)試(FunctionalTesting) 正常操作測(cè)試是測(cè)試電路板在正常使用條件下是否正常工作。該測(cè)試通常與特定的電路板應(yīng)用程序相關(guān)聯(lián)，旨在測(cè)試電路板是否符合性能規(guī)格。 4.邊緣條件測(cè)試(BoundaryScanTesting) ...

4.測(cè)試方法 測(cè)試方法包括硬件測(cè)試、半自動(dòng)測(cè)試和全自動(dòng)測(cè)試等方法。硬件測(cè)試較為簡(jiǎn)單，通常只需要使用一些測(cè)試儀器和測(cè)試設(shè)備，手動(dòng)進(jìn)行電路板測(cè)試和診斷。半自動(dòng)測(cè)試和全自動(dòng)測(cè)試則需要使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備和測(cè)試程序，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制和診斷。 5.測(cè)試數(shù)據(jù)分析 ...

3.絕緣測(cè)試 絕緣測(cè)試是電氣性能測(cè)試中的重要測(cè)試項(xiàng)目，它主要涉及到對(duì)電路中的絕緣性能進(jìn)行測(cè)試，以檢測(cè)是否存在漏電事故的風(fēng)險(xiǎn)。絕緣測(cè)試常用的儀器是絕緣電阻測(cè)試儀器，通過測(cè)量電路間的絕緣電阻值來(lái)判斷接地故障、設(shè)備絕緣老化等問題。 4.安全性測(cè)試 ...

4.電源參數(shù)測(cè)試：這個(gè)項(xiàng)目是檢測(cè)電源類電氣產(chǎn)品的重要項(xiàng)目，主要包括工作電壓、輸出電流、輸出功率、穩(wěn)壓效果等，目的是確保產(chǎn)品在電氣參數(shù)上具有可靠性和穩(wěn)定性。 5.噪聲測(cè)試：這個(gè)項(xiàng)目是檢測(cè)電氣產(chǎn)品噪聲水平的重要項(xiàng)目，主要包括噪聲來(lái)源分析、噪聲監(jiān)測(cè)測(cè)試等，...

邊沿時(shí)間會(huì)影響信號(hào)達(dá)到翻轉(zhuǎn)門限電平的時(shí)間，并決定信號(hào)的帶寬。 信號(hào)之間的偏移(Skew),指一組信號(hào)之間的時(shí)間偏差，主要是由于在信號(hào)之間傳輸路 徑的延時(shí)(傳輸延遲)不同及一組信號(hào)的負(fù)載不同，以及信號(hào)的干擾(串?dāng)_)或者同步開關(guān) 噪聲所造成信號(hào)上升下降時(shí)...

3.電源完整性測(cè)試：測(cè)試設(shè)備的電源噪聲、電源波動(dòng)和交流電源抑制等參數(shù)。這些參數(shù)對(duì)于電子設(shè)備的工作穩(wěn)定性和可靠性非常重要，可以幫助設(shè)計(jì)人員優(yōu)化設(shè)計(jì)方案，以確保設(shè)備在各種電源條件下的性能。 4.溫度、濕度和震動(dòng)測(cè)試：測(cè)試電子設(shè)備在不同溫度、濕度和震動(dòng)條件...

目前，泰克提供的眼圖生成方案： （1） 從數(shù)據(jù)恢復(fù)時(shí)鐘（CDR），眼圖模板測(cè)試：可以分為硬件CDR（PLL）和軟件CDR（PLL+其它） （2） 測(cè)量眼圖的眼高、眼寬等關(guān)于眼圖的參數(shù) （3） 根據(jù)上面測(cè)量到的數(shù)據(jù)，繪制相關(guān)的圖形： ...

10GBase-T/MGBase-T/NBase-T的測(cè)試 10GBase-T是IEEE在2006年推出的10G以太網(wǎng)的標(biāo)準(zhǔn)，用于在服務(wù)器、數(shù)據(jù)交換機(jī)間用雙絞線和RJ-45接口實(shí)現(xiàn)10Gbps的信號(hào)傳輸。10GBase-T的實(shí)現(xiàn)方法與1000Base...

電氣性能測(cè)試通常包括以下內(nèi)容： 1.電氣安全性能測(cè)試：包括絕緣電阻測(cè)試、接地電阻測(cè)試、耐電壓測(cè)試等，用于檢測(cè)產(chǎn)品的安全性能。 2.開關(guān)性能測(cè)試：測(cè)試產(chǎn)品的動(dòng)作次數(shù)、開斷容量、接觸電阻等性能，確保產(chǎn)品在使用過程中的可靠性。 3.負(fù)載特性測(cè)試...