1.適用范圍此程序適用于高效過濾器完整性測試(俗稱高效過濾器檢漏)。2.高效過濾器檢漏原理通過氣溶膠光度計測定上下游粒子的濃度,得出泄漏率的大小。3.儀器設備氣溶膠發生器氣溶膠光度計供氣軟管耗材:PAO(EMERY3004)高效過濾器檢漏價格?高效過濾器檢漏按照高效過濾器數量進行收費,過濾器分為液槽式過濾器和隔板式過濾器,一般檢測時采用冷發收費較貴而采用熱發收費較為優惠,具體報價請聯系旦霆科技銷售顧問。高效過濾器檢漏周期?高效過濾器檢漏周期一般按照GB規定每1年進行高效過濾器檢漏一次4.高效過濾器完整性測試方法/高效過濾器檢漏方法/高效過濾器DOP檢漏方法操作步驟預檢查①對于非層流區域-關閉HVAC的風機。-拆除中效過濾器。-將氣溶膠發生器放置于機組的負壓段。②對于層流單元-發煙位置靠近回風口,風機進風口或專門的氣溶膠發煙口。-找到高效過濾器前的測試軟管或測試孔,如果沒有測試孔,可在空調機組的壓力表處測試上游濃度。-將光度計內部參數調節至100。高效過濾器完整性測試(高效檢漏)-掃描HEPA的表面及其邊框。-對球型結構,直接將高效過濾器的軟管或洞與光度計下游通道相連。高效過濾器完整性測試(高效檢漏)測試程序-接通電源,溫度升至400??C。不同等級的潔凈室、潔凈室與非潔凈室或潔凈室與室外之間均應保持一定的正壓值。實驗室檢測技術好
B.2.1.3粒徑限制器為獲得測量或驗證U描述符所需的計數效率特性,可在計數效率曲線落在圖B.1陰影區之外左側的離散粒子計數器(DPC)或凝聚核計數器的采樣管上,安裝一個粒徑限制器。改動后,計數器、采樣口與粒徑限制器的綜合計數效率曲線落在圖B.1的陰影區內。粒徑限制器***小于規定粒徑的粒子,以準確且可再現的方式降低透過率。粒徑限制器多種多樣,其大小和配置各異,只要它們具有所要求的透過率即可接受。合適的粒徑限制器包括擴散元件和虛擬撞擊器。透過率隨粒子的物理特性、限制器構造和體積流量而變化。因此,使用粒徑限制器時要小心,它們只能用于規定的流量,安裝時要防靜電累積。為了減少電荷累積,粒徑限制器應有良好的接地。遼寧潔凈室環境檢測誠信推薦潔凈室檢測前,需對檢測設備進行校準,確保數據準確性。
B.3.3.3.2離散粒子計數器(DPC)測量使用離散粒子計數器測量大粒子的方法與B.1中的空氣懸浮粒子計數方法基本相同,不同點只有一處,由于只需要大粒子的計數數據,因此對1μm以下粒子的儀器靈敏度無要求。注意離散粒子計數器的樣本需是直接采自采樣點的空氣;計數器采樣管的長度不得超過1m;離散粒子計數器的采樣流量至少0.00047m/s。單向流潔凈室中,計數器采樣口的尺寸應適應等動力采樣。在非單向流區域,離散粒子計數器的采樣口應朝上,采樣口直徑應不小于30mm。設定計數器的粒徑范圍,使其只測量大粒子。為了保證所測粒子的濃度不大于出現重疊誤差的濃度,應保留一個低于5μm(見GB/T25915.1-2010中表1)的粒徑檔。將這個小于5μm粒徑檔的濃度數據加到大粒徑數據中,濃度之和不應超過所用粒子計數器比較大濃度建議值的50%。
6.2.1潔凈室(區)與周圍的空間必須維持一定的壓差,并應按工藝要求決定維持正壓差或負壓差。6.2.2不同等級的潔凈室之間的壓差不宜小于5Pa,潔凈區與非潔凈區之間的壓差不應小于5Pa,潔凈區與室外的壓差不應小于10Pa。6.2.3潔凈室維持不同的壓差值所需的壓差風量,根據潔凈室特點,宜采用縫隙法或換氣次數法確定。6.2.4送風、回風和排風系統的啟閉宜聯鎖。正壓潔凈室聯鎖程序應先啟動送風機,再啟動回風機和排風機;關閉時聯鎖程序應相反。負壓潔凈室聯鎖程序應與上述正壓潔凈室相反。6.2.5非連續運行的潔凈室,可根據生產工藝要求設置值班送風,并應進行凈化空調處理。對潔凈室的送風必須是有很高潔凈度的空氣。
風量或風速、室內靜壓差、空氣潔凈度等級、換氣次數、室內浮游菌和沉降菌、溫度和相對濕度、平均速度、速度不均勻度、噪聲、氣流流型、自凈時間、污染泄露、照度(照明)、甲醛、細菌濃度。1、醫院潔凈手術部:風速、換氣次數、靜壓差、潔凈度級別、溫濕度、噪聲、照度、細菌濃度。2、醫藥工業潔凈廠房:空氣潔凈度等級、靜壓差、風速或風量、氣流流型、溫度、相對濕度、照度、噪聲、自凈時間、已安裝過濾器泄漏、浮游菌、沉降菌。3、電子工業潔凈廠房:空氣潔凈度等級、靜壓差、風速或風量、氣流流型、溫度、相對濕度、照度、噪聲、自凈時間。4、食品工業潔凈用房:定向氣流、靜壓差、潔凈度、空氣浮游菌、空氣沉降菌、噪聲、照度、溫度、相對濕度、自凈時間、甲醛、Ⅰ級工作區截面風速、開發的洞口風速、新風量。潔凈室檢測時需特別注意對生物安全柜等特殊設備的檢測。浙江檢測方便客戶
潔凈室檢測中發現的改進機會應納入持續改進計劃中。實驗室檢測技術好
潔凈室在現代工業中早已被廣泛應用于半導體生產、液晶螢幕生產、生化技術、生物技術、精密器械、制藥、醫院等行業之中,尤其以半導體晶圓制程對無塵等級的要求比較高,因為現今的晶圓已經發展到奈米級的水準,隨便一粒灰塵掉落在晶圓上都可能造成整個晶圓線路的毀損,甚至導致這個晶圓必須報廢。無塵室除了管控空氣中的微塵粒子之外,還分成正壓無塵室與負壓無塵室。一般正壓無塵室比較常見,就是讓室內的空氣壓力大于室外的壓力,這樣才可以控制室內空氣往外吹以杜絕外部的污染源。實驗室檢測技術好