克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng)，以成為高數(shù)信號(hào)傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)。克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室重心團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測試領(lǐng)域10年以上。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅(jiān)持以專業(yè)的技術(shù)人員，嚴(yán)格按照行業(yè)測試規(guī)范，配備高性能的權(quán)能測試設(shè)備，提供給客戶更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù)。克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室提供具深度的專業(yè)知識(shí)及一系列認(rèn)證測試、預(yù)認(rèn)證測試及錯(cuò)誤排除信號(hào)完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試，PCI-E測試等方面測試服務(wù)。PCI-E的信號(hào)測試中否一定要使用一致性測試碼型？智能化多端口矩陣測試PCI-E測試規(guī)格尺寸

在2010年推出PCle3.0標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，為了避免10Gbps的電信號(hào)傳輸帶來的挑戰(zhàn)，PCI-SIG  終把PCle3.0的數(shù)據(jù)傳輸速率定在8Gbps,并在PCle3.0及之后的標(biāo)準(zhǔn)中把8b/10b編碼  更換為更有效的128b/130b編碼，以提高有效的數(shù)據(jù)傳輸帶寬。同時(shí)，為了保證數(shù)據(jù)傳輸  密度和直流平衡，還采用了擾碼的方法，即數(shù)據(jù)傳輸前先和一個(gè)多項(xiàng)式進(jìn)行異或，這樣傳輸  鏈路上的數(shù)據(jù)就看起來比較有隨機(jī)性，可以保證數(shù)據(jù)的直流平衡并方便接收端的時(shí)鐘恢復(fù)。 擾碼后的數(shù)據(jù)到了接收端會(huì)再用相同的多項(xiàng)式把數(shù)據(jù)恢復(fù)出來。遼寧多端口矩陣測試PCI-E測試為什么PCI-E3.0的一致性測試碼型和PCI-E2.0不一樣？

PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測試方法與PCIe4.0也是類似，都需要通過CLB或者CBB的測試夾具把被測信號(hào)引出接入示波器進(jìn)行發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測試，并通過誤碼儀的配合進(jìn)行LinkEQ和接收端容限的測試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別，下面將從發(fā)送端和接收端測試方面分別進(jìn)行描述。

PCIe5.0發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量及LinkEQ測試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達(dá)32Gbps,因此信號(hào)邊沿更陡。對(duì)于PCIe5.0芯片的信號(hào)測試，協(xié)會(huì)建議的測試用的示波器帶寬要高達(dá)50GHz。對(duì)于主板和插卡來說，由于測試點(diǎn)是在連接器的金手指處，信號(hào)經(jīng)過PCB傳輸后邊沿會(huì)變緩一些，所以信號(hào)質(zhì)量測試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是，在接收端容限測試中，由于需要用示波器對(duì)誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號(hào)做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn)，所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會(huì)用到50GHz。

當(dāng)鏈路速率不斷提升時(shí)，給接收端留的信號(hào)裕量會(huì)越來越小。比如PCIe4.0的規(guī)范中 定義，信號(hào)經(jīng)過物理鏈路傳輸?shù)竭_(dá)接收端，并經(jīng)均衡器調(diào)整以后的小眼高允許15mV,  小眼寬允許18.75ps,而PCIe5.0規(guī)范中允許的接收端小眼寬更是不到10ps。在這么小  的鏈路裕量下，必須仔細(xì)調(diào)整預(yù)加重和均衡器的設(shè)置才能得到比較好的誤碼率結(jié)果。但是，預(yù)  加重和均衡器的組合也越來越多。比如PCIe4.0中發(fā)送端有11種Preset(預(yù)加重的預(yù)設(shè)模  式),而接收端的均衡器允許CTLE在-6～ - 12dB范圍內(nèi)以1dB的分辨率調(diào)整，并且允許  2階DFE分別在±30mV和±20mV范圍內(nèi)調(diào)整。綜合考慮以上因素，實(shí)際情況下的預(yù)加  重和均衡器參數(shù)的組合可以達(dá)幾千種。PCIE與負(fù)載只有時(shí)鐘線和數(shù)據(jù)線，搜索的時(shí)候沒有控制管理線，怎么找到的寄存器呢？

·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測試):用于檢查設(shè)備傳輸層的協(xié)議行為。·PlatformBIOSTesting(平臺(tái)BIOS測試):用于檢查主板BIOS識(shí)別和配置PCIe外設(shè)的能力。對(duì)于PCIe4.0來說，針對(duì)之前發(fā)現(xiàn)的問題以及新增的特性，替換或增加了以下測試項(xiàng)目·InteroperabilityTesting(互操作性測試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓(xùn)練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測試)。·LaneMargining(鏈路裕量測試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中，針對(duì)電氣特性測試，又有專門的物理層測試規(guī)范，用于規(guī)定具體的測試項(xiàng)目和測試方法。表4.2是針對(duì)PCIe4.0的主板或插卡需要進(jìn)行的物理層測試項(xiàng)目,其中灰色背景的測試項(xiàng)目都涉及鏈路協(xié)商功能。PCI-E 3.0數(shù)據(jù)速率的變化；PCI-E測試商家

我的被測件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽金手指的接口，怎么進(jìn)行PCI-E的測試？智能化多端口矩陣測試PCI-E測試規(guī)格尺寸

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時(shí)鐘模式下，主板會(huì)給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差，同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)可以互 相抵消，所以對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)要求可以稍寬松一些智能化多端口矩陣測試PCI-E測試規(guī)格尺寸