spi檢測設備在貼片打樣中的應用SPI檢測設備通常意義上來講是指錫膏檢測儀,在貼片打樣中具有重大的作用。它的主要功能是檢測錫膏、紅膠印刷的體積、面積、高度、形狀、偏移、橋連、溢膠等進行漏印、(多、少、連錫)、形狀不良等印刷缺陷進行檢測。它有二維平面和三維立體兩種配置。二維平面:使用的是單方向光源照射,通過光源反射算法來評判照射面的的質量問題。因為貼片打樣中的元器件是凸起的,照射面光線的背面是被遮擋的,無法檢測遮擋面的情況。三維立體:使用的是三向投射光系統,通過X、Y、Z軸方向的光束產生一個立體的圖像,能夠解決陰影與亂反射的問題。同時能夠更加直觀的看到錫膏印刷的立體圖像。那么在smt打樣中客戶是關心首件檢測能否過關的。一個產品的研發周期通常來講都是很長的,經過pcb打樣貼片之后才能確定產品的質量穩定性和可行性,那么成功與失敗的概率都是五五開的,驗證通過皆大歡喜,如果是失敗了就必須要找出哪里出現了問題,是產品的問題還是加工工藝的問題,這個時候從smt加工廠到方案開發都需要一點點的去糾錯。可編程結構光柵(PSLM)技術PMP技術中主要的一個基礎條件就是要求光柵的正弦化。韶關在線式SPI檢測設備技術參數
解決相移誤差的新技術PMP技術中另一個主要的基礎條件就是對于相移誤差的控制。相移法通過對投影光柵相位場進行移相來增加若干常量相位而得到多幅光柵圖來求解相位場。由于多幅相移圖比單幅相移圖提供了更多的信息,所以可以得到更高精度的結果。傳統的方式都依靠機械移動來實現相移。為達到精確的相移,都使用了比較高精度的馬達,如通過陶瓷壓電馬達(PZT),線性馬達加光柵尺等方式。并通過大量的算法來減少相移的誤差。可編程結構光柵因為其正弦光柵是通過軟件編程實現的,所以其在相移時也是通過軟件來實現,通過此種技術可以使相移誤差趨向于“0”,提高了量測精度。并且此技術不需要機械部件,減少了設備的故障幾率,降低機械成本與維修成本。河源SPI檢測設備廠家價格為何要對錫膏印刷環節進行外觀檢測?
SPI錫膏檢查機的作用和檢測原理SPI即是SolderPasteInspection的簡稱,中文叫錫膏檢查,這種錫膏檢查機類似我們一般常見擺放于SMT爐后的AOI(AutoOpticalInspection)光學識別裝置,同樣利用光學影像來檢查品質。SPI錫膏檢查機的作用一般,SMT貼片中80%-90%的不良是來自于錫膏印刷,那么在錫膏印刷后設置一個SPI錫膏檢查機是不是很有必要,將錫膏印刷不良的PCB在貼片前就篩選下來,這樣就可以提高回流焊接后的通過率。現在越來越多的0201小元件需要貼片焊接,因此錫膏印刷的品質需求就越高,在錫膏印刷后檢查出來的不良比回流焊接后檢查出來的維修成本要低很多,不僅節省成本,并且更容易返修。
SPI導入帶來的收益在線型3D錫膏檢測設備(SPI)1)據統計,SPI的導入可將原先成品PCB不合格率有效降低85%以上;返修、報廢成本大幅降低90%以上,出廠產品質量顯著提高。SPI與AOI聯合使用,通過對SMT生產線實時反饋與優化,可使生產質量更趨平穩,大幅縮短新產品導入時必須經歷的不穩定試產階段,相應成本損耗更為節省。2)可大幅降低AOI關于焊錫的誤判率,從而提高直通率,有效節約人為糾錯的人力、時間成本。據統計,當前成品PCB中74%的不合格處與焊錫有直接關系,13%有間接關系。SPI通過3D檢測手段有效彌補了傳統檢測方法的不足3)部分PCB上元器件如BGA、CSP、PLCC芯片等,由于自身特性所帶來的光線遮擋,貼片回流后AOI無法對其進行檢測。而SPI通過過程控制,極大程度減少了爐后這些器件的不良情況。4)伴隨電子產品日益精密化與焊錫無鉛化的趨勢,貼片元件越來越微型,因此,焊錫膏印刷質量正變得越來越重要。SPI能有效確保良好的錫膏印刷質量,大幅減少可能存在的成品不良率。5)作為質量過程控制的手段,能在回流焊接前及時發現質量隱患,因此幾乎沒有返修成本與報廢的可能,有效節約了成本AOI檢測設備的作用有哪些呢?
SPI技術主流:1.基于激光掃描光學檢測2.基于摩爾條紋光學檢測SPI市場主流:激光掃描光學檢測,摩爾條紋光學檢測為主SPI應用模式:當生產線投入使用全自動印刷機時:1.桌上型離線用:新產品投產時1-20片全檢;進入量品連續檢查5片;2.連線型全檢用:杜絕不良錫膏印刷進入SMT貼片機;3.連線印刷閉環;連線三點聯網遙控;錫膏中助焊劑的構成及其作用助焊劑的作用①清潔作用→去除表面氧化膜②再氧化防止作用→防止再氧化發生③降低表面張力作用→在無鉛焊接中助焊劑的效果不明顯錫膏檢查機只能做表面的影像檢查,如果有被物體覆蓋住的區域是無法檢查得到的。廣東在線式SPI檢測設備生產廠家
spi檢測設備在貼片打樣中的應用。韶關在線式SPI檢測設備技術參數
那么SPI具體是如何檢測的呢?目前SPI領域中主要的檢查方法有激光檢査和條紋光檢查兩種。其中激光方法是用點激光實現的。由于點激光加CCD取像須有X、Y逐點擔的機構,并未明顯増加量測速度。為了增加量測速度,需將點激光改成掃描式線激光光線。這兩種是經常用到的方法,此外還有360°輪廓測量理論、對映函數法測量原理( coordinate Mapping)、結構光法( Structure Lighting)、雙鏡頭立體視覺法。但這些方法會受到速度的限制而無法被應用到在線測試上,只適合單點的3D測量。韶關在線式SPI檢測設備技術參數
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