結構光光源通過投影編碼光柵或激光條紋，結合三角測量原理實現高精度三維建模。在電子產品裝配檢測中，藍色激光（405nm）結構光系統可實現±0.01mm的深度分辨率，精細檢測接插件插針共面度。動態場景下，采用MEMS微鏡的掃描式結構光可將幀率提升至1000Hz，滿足機器人抓取高速定位需求。工業級解決方案常搭配抗環境光干擾算法，在焊接車間強光環境下仍能保持85%以上的點云完整度。典型應用包括輪胎花紋深度測量（精度0.05mm）和電池極片對齊檢測（速度120PPM）。防靜電光源集成離子風，保護精密電路板檢測安全。廣東高亮條形光源AOI

同軸光源采用分光鏡將光線與相機光軸對齊，通過消除漫反射干擾實現鏡面表面檢測。在手機屏幕缺陷檢測中，該光源能將劃痕、凹坑等缺陷的識別率提升至99.7%，其關鍵參數包括光斑均勻性（≥90%）和亮度穩定性（±2%）。新一代智能同軸光源集成偏振濾波功能，可動態調節偏振方向以抑制金屬表面雜散光。工業案例顯示，在汽車活塞環檢測中，同軸光源搭配500萬像素相機可識別0.02mm級裂紋，且檢測速度比傳統方式提升3倍。系統支持以太網供電（PoE）與遠程亮度調節，適應工業4.0柔性產線需求。包頭光源紅外復合光源檢測深孔內壁，缺陷檢出率達97%以上。

波長選擇需遵循“互補色增強”原理：檢測黃色油污（主波長580nm）時選用藍色光源（450nm），對比度可提升3倍；透明PET瓶檢測宜用紅色光源（630nm）穿透瓶身并凸顯內部液體輪廓。某日化企業通過DOE實驗優化，確定瓶蓋密封性檢測的比較好波長為515nm（綠色LED），使硅膠墊圈缺失檢出率從82%提升至99.9%。針對高反光曲面工件，需選用漫射光源（霧化度>80%）并控制入射角在30-60°之間，以均衡紋理增強與反光抑制。標準化測試表明，當光源均勻度從85%提升至95%時，邊緣檢測算法的穩定性提高40%。先進選型工具（如Photonics Expert 4.0）集成材料光學數據庫（覆蓋5000+種材質），可基于蒙特卡洛模擬推薦比較好光源組合，選型周期縮短70%。

高均勻性光源的設計挑戰，均勻性是評價光源性能的中心指標之一。不均勻的照明會導致圖像灰度分布不均，進而影響測量精度。為實現高均勻性，需通過光學設計優化光路，如使用漫射板、透鏡陣列或特殊導光結構。例如，積分球光源通過多次反射實現全空間均勻照明，但體積較大，適用于實驗室場景。工業級解決方案則依賴LED陣列排布和亮度微調算法。近年來，柔性導光膜技術的突破使得輕薄化均勻光源成為可能，尤其適用于空間受限的嵌入式檢測設備。微秒級頻閃光源凍結高速產線運動，捕捉線材生產形變誤差。

機械視覺光源根據光學特性與應用場景可分為七大類：環形、同軸、背光、點光源、條形、穹頂及多光譜光源。環形光源以多角度LED陣列著稱，適用于曲面工件定位（如軸承滾珠檢測）；同軸光源通過分光鏡實現垂直照明，專攻高反光表面（如手機玻璃蓋板劃痕檢測）；背光源通過透射成像提取輪廓特征，在精密尺寸測量（如PCB孔徑檢測）中精度可達±1μm。選型時需綜合考慮材質特性（金屬/非金屬）、檢測目標（表面缺陷/內部結構）、環境條件（溫度/振動）三大因素。例如，食品包裝檢測常選用紅色LED（630nm）穿透透明薄膜，而醫療器械滅菌驗證則依賴紫外光源（365nm）激發熒光物質。行業數據顯示，電子制造業中同軸光源使用占比達42%，而汽車行業更傾向組合光源（如穹頂+條形光）以應對復雜曲面檢測需求。可編程RGB光源校準汽車內飾色差，ΔE值小于0.8。徐州光源平行同軸

藍光結構光測量陶瓷裂紋，精度±0.05mm。廣東高亮條形光源AOI

850nm/940nm紅外光源利用不可見光穿透表層材料的特性，廣泛應用于內部結構檢測。在半導體封裝檢測中，紅外光可穿透環氧樹脂封裝層，清晰呈現金線鍵合形態，缺陷識別率超過99%。熱成像復合型系統結合1050nm波長，可同步獲取工件溫度分布與結構圖像，用于光伏板隱裂檢測時效率提升40%。精密領域則采用1550nm激光紅外光源，其大氣穿透能力在霧霾環境下的檢測距離比可見光系統延長5倍。智能調光模塊可隨材料厚度自動調節功率（10-200W），避免過曝或穿透不足。